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SunScan植物冠层分析仪在测量大豆叶面积指数中的应用

点一下2次:3304自动更新时段:2017-12-21

SunScan值(zhi)物冠(guan)层(ceng)探(tan)(tan)讨(tao)仪也(ye)是(shi)(shi)(shi)种再生利用(yong)外(wai)源性预(yu)(yu)估(gu)(gu)法探(tan)(tan)测叶体(ti)积系数(LAI)的(de)(de)(de)医疗仪器,按照(zhao)给定(ding)展现地被植物立(li)体(ti)几(ji)何特色的(de)(de)(de)椭球体(ti)叶坡度区域(yu)运作值(zhi)(ELADP),预(yu)(yu)估(gu)(gu)散发出(chu)率获取(qu)LAI。于(yu)2005、2005年在山(shan)东省嫩(nen)江县鹤山(shan)牧(mu)场布设黄(huang)豆(dou)(dou)试验(yan)装置(zhi)地,按照(zhao)比(bi)效LI-3100叶体(ti)积仪会直接预(yu)(yu)估(gu)(gu)的(de)(de)(de)LAI和SunScan冠(guan)层(ceng)探(tan)(tan)讨(tao)仪外(wai)源性预(yu)(yu)估(gu)(gu)的(de)(de)(de)LAI,测得ELADP率定(ding)可(ke)是(shi)(shi)(shi),并证实了(le)SunScan冠(guan)层(ceng)探(tan)(tan)讨(tao)仪预(yu)(yu)估(gu)(gu)LAI的(de)(de)(de)精(jing)确。可(ke)是(shi)(shi)(shi)表示:用(yong)SunScan预(yu)(yu)估(gu)(gu)黄(huang)豆(dou)(dou)冠(guan)层(ceng)LAI时,ELADP取(qu)数值(zhi)4.0;人设该运作值(zhi)后,SunScan预(yu)(yu)估(gu)(gu)的(de)(de)(de)LAI与LI-3100预(yu)(yu)估(gu)(gu)可(ke)是(shi)(shi)(shi)一(yi)致性,两者之间曲线(xian)拟合(he)的(de)(de)(de)线(xian)型回馈式子(zi)有效;随生长(zhang)的(de)(de)(de)季叶体(ti)积的(de)(de)(de)变动(dong),SunScan预(yu)(yu)估(gu)(gu)出(chu)现偏差的(de)(de)(de)原(yuan)因感有变动(dong);施肥(fei)(fei)后50~85d,Sun—Scan探(tan)(tan)测值(zhi)比(bi)偏7.2ꩲ%,施肥(fei)(fei)96d往(wang)后探(tan🌠)(tan)测值(zhi)较为增(zeng)高12.5%,施肥(fei)(fei)后85~96d与LI-3100探(tan)(tan)测值(zhi)三十分临近,出(chu)现偏差的(de)(de)(de)原(yuan)因只是(shi)(shi)(shi)2.0%;过程运作值(zhi)率定(ding)后的(de)(de)(de)SunScan预(yu)(yu)估(gu)(gu)LAI效用(yong)较佳。

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